品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
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應用領域 | 醫療衛生,生物產業,電子,紡織皮革,汽車 | | |
韓國NanoSystem非接觸光學表面形貌測量系統
型號:NanoView-1800/NanoView-2400/NanoView-2700
高(gao)精度非接(jie)觸式表面形貌檢測
無(wu)損(sun)3D表面輪廓(kuo)分析
宜用平臺提供(gong)快(kuai)速、高效的工藝流程(cheng)的監控
全面、直(zhi)觀的軟(ruan)件提供了式樣和應用靈活性
主要(yao)功(gong)能
3D形貌測量
高,深,間(jian)隔(ge)(從納米級到5mm)
粗糙(cao)度(R參數)表(biao)面(mian)(S參數)
面(mian)積(ji)信(xin)息(體積(ji),面(mian)積(ji))
2D測量
NanoView可靠性(xing)在許多應用領域發揮性(xing)能(neng)。
NanoView 提供完整的表面形貌納米測量和分析技術方案。
韓國NanoSystem非接(jie)觸光學表面形貌測(ce)量(liang)系統
NV-Serise技術參數
型號 | NanoView-1800 | NanoView-2400 | NanoView-2700 |
測量原理 | 非接觸三維 白光掃描干涉法(WSI)/移相干涉法(fa)(PSI) |
現場放大鏡 | 1.0×(標配) | 1.0×(標配) | 1.0×(標(biao)配) |
物(wu)鏡 | 單鏡頭 | 可選5個鏡頭(手動鼻輪) | 可選5個(ge)鏡(jing)頭(自動(dong)鼻輪(lun)) |
光源 | 白光LED光源 |
掃描(miao)方式 | 閉(bi)環控制壓電促動掃描方式 |
縱向掃描(miao)范圍 | Max 270um(可拓展到:5mm) |
縱向掃描速度 | ≤12um/sec(1X~5X倍率可選) |
傾斜 | ±3°(樣品臺傾斜) | 頭部傾斜±5°(手動模(mo)式) | 頭部傾斜±5°(自動模(mo)式) |
縱向分辨率 | WSI:<0.5nm / PSI:<0.1nm |
橫向分辨率 | 0.2~4um(取決(jue)于物鏡/視場(chang)放大鏡(jing)倍率) |
臺階重復(fu)性(xing) | <0.5%(1s) |
XY樣(yang)品臺行(xing)程 | 140×140mm(手動(dong)) | 230×230mm(自動) | 230×230mm(自動) |
XY樣(yang)品臺行程 | 50×50mm(手動) | 100×100mm(手(shou)動) | 100×100mm(自動) |
Z軸行程 | 30mm(手動) | 100mm(手動(dong)) | 100mm(自(zi)動(dong)) |
環境要求 | 溫度:15~30℃,溫度變(bian)化(hua)量:<1℃/15min 濕度:<60%,無凝結 |